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nanoseeds/NS-S100/粉末层剪切力测量系统 NS-S 系列
来源:    发布时间: 2025-12-09 10:33   858 次浏览   大小:  16px  14px  12px
nanoseeds/NS-S100/粉末层剪切力测量系统 NS-S 系列特征:一台测量设备即可进行恒容剪切和恒载荷剪切两种测试。 高精度双轴正交剪切池系统能够检测物理性质的细微差异。 测量间清洁方便。单次测量仅需约 10 分钟,使其成为短时间内开展大规模实验的理想选择。

特征:一台测量设备即可进行恒容剪切和恒载荷剪切两种测试。

高精度双轴正交剪切池系统能够检测物理性质的细微差异。

测量间清洁方便。单次测量仅需约 10 分钟,使其成为短时间内开展大规模实验的理想选择。粉末层剪切力测量系统 NS-S 系列