nanoseeds/NS-S100/粉末层剪切力测量系统 NS-S 系列
nanoseeds/NS-S100/粉末层剪切力测量系统 NS-S 系列特征:一台测量设备即可进行恒容剪切和恒载荷剪切两种测试。
高精度双轴正交剪切池系统能够检测物理性质的细微差异。
测量间清洁方便。单次测量仅需约 10 分钟,使其成为短时间内开展大规模实验的理想选择。
特征:一台测量设备即可进行恒容剪切和恒载荷剪切两种测试。
高精度双轴正交剪切池系统能够检测物理性质的细微差异。
测量间清洁方便。单次测量仅需约 10 分钟,使其成为短时间内开展大规模实验的理想选择。
粉末层剪切力测量系统 NS-S 系列
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